【jtag10针定义】JTAG（Joint Test Action Group）是一种国际标准的测试接口，主要用于芯片的调试、测试和编程。它最初由IEEE 1149.1标准定义，广泛应用于嵌入式系统开发中。随着技术的发展，JTAG接口的引脚数量也有所变化，其中10针的JTAG接口是目前较为常见的配置之一，尤其在一些ARM架构的微控制器中使用较多。
JTAG 10针接口通过提供一系列标准化的信号引脚，使得开发者能够对目标设备进行在线调试、烧录程序、读取寄存器等操作。以下是对JTAG 10针接口的简要总结及各引脚功能说明。
JTAG 10针接口定义总结
JTAG 10针接口通常采用一种称为“10-pin JTAG”的连接方式，适用于多种嵌入式处理器。该接口包括基本的JTAG控制信号以及电源和地线，以确保稳定的工作环境。不同厂商可能会对具体引脚定义略有调整，但总体结构保持一致。
JTAG 10针接口定义表
| 引脚编号 | 引脚名称 | 功能描述 |
| 1 | TDI | 测试数据输入（Test Data In），用于向目标设备发送调试数据 |
| 2 | TMS | 测试模式选择（Test Mode Select），用于控制JTAG状态机的转换 |
| 3 | TCK | 测试时钟（Test Clock），提供同步时钟信号 |
| 4 | GND | 地线（Ground），用于电路参考电压 |
| 5 | TDO | 测试数据输出（Test Data Out），用于从目标设备接收调试数据 |
| 6 | VCC | 电源电压（Power Supply），为目标设备提供工作电压 |
| 7 | nSRST | 软件复位（Software Reset），用于触发目标设备的复位操作 |
| 8 | NC | 未连接（No Connect），通常不使用 |
| 9 | TDI | 测试数据输入（Test Data In），部分设计可能重复使用TDI引脚 |
| 10 | TMS | 测试模式选择（Test Mode Select），部分设计可能重复使用TMS引脚 |
> 注： 上表中的引脚编号和功能基于常见标准，实际应用中需根据具体芯片手册确认。某些情况下，NC引脚可能被用作其他功能，如辅助调试或预留接口。
JTAG 10针接口的应用场景
- 嵌入式系统的在线调试
- 固件烧录与更新
- 芯片内部寄存器读写
- 故障诊断与测试
JTAG接口的标准化设计使得不同厂商的工具可以兼容使用，提高了开发效率和系统可维护性。对于开发者而言，理解并正确使用JTAG接口是实现高效调试和开发的关键步骤。